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X熒光光譜儀的多種樣品檢測方法

發(fā)布時間：2022-12-05 08:51:12 　　　　　　　點擊：4135

X熒光光譜儀是一款可應用于多種類樣品檢測的儀器，無論對于固體

、液體

、粉塵、氣體等均可以進行有效分析

。其進行樣品檢測的方式是怎么樣的呢

？

樣品制備X射線熒光光譜法是一種表面分析辦法，必需注重分析面相對于囫圇樣品是否具有代表性

，樣品是否勻稱

，任何制樣過程和步驟必需有十分好的重復可操作性。不同X射線熒光光譜儀對樣品要求不同

，不同樣品有不同的制樣辦法

。

固體樣品假如大小外形合適可以挺直分析，外形不規(guī)章可以經過容易的切割達到X熒光光譜儀的要求

，只需舉行表面處理

，液體樣品可以挺直分析，大氣塵埃通常收集在濾膜上挺直舉行分析

，而粉末樣品的制樣辦法就比較復雜

，通常需要經過壓片處理。

X熒光光譜儀的土壤檢測分析

X熒光光譜儀的土壤檢測分析

工作曲線的制作和校正根據儀器的操作規(guī)程開啟儀器

，并預熱儀器直至儀器穩(wěn)定

。挑選與測試樣品基體相匹配的標準樣品，根據光譜儀的優(yōu)化測量條件

，用X射線熒光光譜儀測定標準樣品中待分析元素的熒光強度

，按照標準祥品所給定的標準值和光譜儀所測得的強度制作工作曲線。電子電氣產品涉及的材料品種十分之多

，分析元素的特征譜線常受到來自測試樣品中的基體影響、元素間譜線重疊干擾等因素影響

，這些影響因素可通過工作曲線的校正

，詳細可以通過背景扣除法、基本參數法

、閱歷系數法等校正辦法舉行干擾校正

。

待測樣品的采譜測定將待測樣品放在樣品室內舉行測試。假如樣品是液態(tài)

、粉末或顆粒

，或者只是一很小的樣品

，它需要在帶有不行重復用法薄膜的樣品杯里舉行測量。操作這個窗口薄膜時

，當心不要接觸它的表面以免對其造成污染

。全部樣品必需徹低籠罩光譜儀的測量窗口，對于輕合金起碼達到4mm厚

，密度較大的合金起碼1mm厚

，塊狀塑料1cm厚，粒狀塑料放樣品杯里2cm厚

，液態(tài)

、粉末基本上填滿樣品杯。

使用X熒光光譜儀對多種樣品進行分析檢測

，是一種非常高效的檢測方式

。
　

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